Siner X è un sistema hardware e software basato sulla fluorescenza dei raggi X per:
- Analisi dei materiali: determinazione qualitativa e quantitavia della composizione di materiali e leghe metalliche
- Misura dello spessore dei rivestimenti: determinazione quantitativa della composizione e dello spessore dei rivestimenti metallici (nichelatura, cromatura, doratura etc.)
1. Tubo radiogeno a basso consumo e ad alta stabilità
- anodo Ta
- max tensione 40 kV
- max corrente 100 microA
- raffreddamento aria
2. Rivelatore Silicon PIN
- risoluzione 180 eV
- finestra 0,5 mm Be
- raffreddamento Cella Peltier
- elementi rilevabili Z > 16 (zolfo)
3. Altre caratteristiche
- Sistema di puntamento a doppio laser con telecamera interna alla camera di misura
- Posizionamento dei campioni manuale.
- Movimentazione meccanizzata
Siner X è un software modulare di acquisizione ed elaborazione degli spettri di fluorescenza X che consente le seguenti operazioni:
MODULO 1 - Acquisizione e visualizzazione degli spettri
SinerX può essere interfacciato ai dispositivi multicanale della Amptek per impostare e gestire l'esecuzione delle misure di fluorescenza;
SinerX permette la visualizzazione degli spettri acquisiti, ed il confronto tra spettri acquisiti in diverse sessioni di misura
MODULO 2 - Analisi qualitativa
SinerX esegue una analisi automatica dello spettro, individuando i picchi di fluorescenza caratteristici e, di conseguenza, gli elementi presenti;
MODULO 3 - Analisi quantitativa (Concentrazioni)
Utilizzando il metodo dei parametri fondamentali, SinerX è in grado di ricavare la composizione quantitativa del campione analizzato attraverso un calcolo numerico iterativo.
MODULO 4 - Analisi quantitativa (Concentrazioni e spessori)
Utilizzando il metodo dei parametri fondamentali, SinerX è in grado di ricavare non solo la composizione quantitativa del campione, ma anche lo spessore di eventuali rivestimenti metallici.